光器件测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间，以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。本实用新型提出的光器件测试装置能够提升光器件跟踪误差测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
光器件测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920797761.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-29
授权号 ：
CN209927422U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
庄礼杰刘兴张雄辉潘双收
申请人 ：
深圳市亚派光电器件有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区留仙二路中粮商务公园2栋1503
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
胡海国
优先权 ：
CN201920797761.2
主分类号 ：
G01M11/04
IPC分类号 ：
G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/04
••其光学实验台
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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