电子器件测试装置

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型提供一种电子器件测试装置，用于检测驱动芯片或激光发射器，所述电子器件测试装置包括测试电路板和TOF镜头，所述TOF镜头安装于所述测试电路板上，所述测试电路板包括驱动芯片安装位和激光发射器安装位，所述驱动芯片安装位和所述激光发射器安装位分别用于直接安装所述驱动芯片和所述激光发射器。本实用新型的电子器件测试装置，由于驱动芯片和激光发射器分别直接安装于测试电路板上，在测试不同的激光发射器或驱动芯片时，无需另外将驱动芯片和激光发射器组装在一起再安装在测试电路板上，可减少生产时间、降低生产成本、且加快测试速度。

基本信息

专利标题：

电子器件测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022528073.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-11-05

授权号：

CN213689797U

授权日：

2021-07-13

发明人：

罗建文

申请人：

昆山丘钛微电子科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号

代理机构：

上海波拓知识产权代理有限公司

代理人：

边晓红

优先权：

CN202022528073.1

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/28