一种光电子器件测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种光电子器件测试装置，其中包括内部为空腔结构的柜体和设置在所述柜体正面的用于盖住所述柜体的正面的盖子，所述的盖子的一边与所述的柜体的一边通过合页进行连接，盖子的另一边与柜体的另一边通过锁定机构进行锁定；所述的柜体的正面上设置有放置口，所述的放置口的侧壁上设置有一安装座，所述的安装座上安装有测试探针，所述的柜体内设置有光电子器件传送装置。此光电子器件测试装置对光电子器件进行测试时，光电子器件位于柜体内，避免灰尘进入到柜体内部，预防光电子器件受到污染。
基本信息
专利标题 ：
一种光电子器件测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920595764.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-25
授权号 ：
CN210323264U
授权日 ：
2020-04-14
发明人 ：
董路兵
申请人 ：
深圳市凤翔光电电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道航空路东30号同安物流A栋212
代理机构 ：
深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹勇
优先权 ：
CN201920595764.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-04-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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