一种可调节微电子器件绝缘测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种可调节微电子器件绝缘测试装置，包括支撑平台、上电极连接座、上电极固定座、上电极板、加热器、水泵、报警灯、导电块和下电极，所述支撑平台的顶端开设有移动槽，所述支撑平台的顶端插设有移动杆，所述灯座的左侧安装有报警灯，所述水槽内壁的左侧焊接有导电块，所述固定块的底端皆延伸至固定槽的内部，所述卡杆相互远离的一侧皆焊接有卡块。本实用新型使得用户可对不同规格的绝缘体进行测试，提高了该装置的实用性，也避免夹持过紧对绝缘体造成损伤，可快速的对绝缘体的绝缘性进行测试，提高了用户的作业效率，保证了该装置对绝缘体的检测效果，提高了该装置的实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种可调节微电子器件绝缘测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021064839.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-11
授权号 ：
CN212693939U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
习建平莫维斌
申请人 ：
新干晶芯微电子科技有限公司
申请人地址 ：
江西省吉安市新干县河西工业园(绿色科技返乡创业园)
代理机构 ：
长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
匡治兵
优先权 ：
CN202021064839.9
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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