接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头
授权
摘要
本申请公开了用于测试电子器件的装置的探头的接触探针(20)，包括探针主体(20C)，该探针主体基本上在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于探针主体(20C)的横向尺寸。适当地，端部(20B)包括至少一个凹口(23A)，该凹口适于容纳在与已经实现接触探针(20)的基板(25)分离之后产生的位于接触探针(20)上的材料碎屑(24A)。
基本信息
专利标题 ：
接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110662969A
申请号 ：
CN201780077832.5
公开（公告）日 ：
2020-01-07
申请日 ：
2017-12-06
授权号 ：
CN110662969B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
罗伯特·克里帕拉斐尔·瓦劳利
申请人 ：
泰克诺探头公司
申请人地址 ：
意大利莱科
代理机构 ：
北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
方挺
优先权 ：
CN201780077832.5
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R3/00 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2020-02-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/067
申请日 : 20171206
申请日 : 20171206
2020-01-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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