晶圆级磁光克尔测试仪
授权
摘要
1．本外观设计产品的名称：晶圆级磁光克尔测试仪。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于磁性芯片生产，可以无损的检测晶圆上的磁性参数的空间分布情况，可满足磁性芯片与磁存储芯片从材料表征、产品开发到量产阶段的磁性测量需求。3．本外观设计产品的设计要点：本外观设计产品的设计要点在于产品的形状、图案的结合。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。5．省略视图：本产品的俯视图与仰视图为不常见面，因此省略俯视图、仰视图。
基本信息
专利标题 ：
晶圆级磁光克尔测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130610212.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-15
授权号 ：
CN307368410S
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
杜洪磊
申请人 ：
致真精密仪器（青岛）有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市崂山区松岭路393号6号楼3楼
代理机构 ：
山东易佰捷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
臧冰
优先权 ：
CN202130610212.2
主分类号 ：
10-04
IPC分类号 ：
10-04
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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