光检测设备和光检测系统
授权
摘要
提供了光检测设备和光检测系统。半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面。光电转换部分具有配置有不同导电类型的第一半导体区域和第二半导体区域的PN结。埋入部分被埋入半导体基板中并且包含电极和被定位在电极与半导体基板之间且与第二半导体区域接触的电介质构件。第二半导体区域被定位在比第一半导体区域深的位置中。埋入部分被定位为从第一表面延伸到比第一半导体区域深的位置。以在电极与第二半导体区域之间出现的反型层和第一半导体区域彼此接触的方式，电势被供应到第一半导体区域、第二半导体区域和电极。
基本信息
专利标题 ：
光检测设备和光检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN107665897A
申请号 ：
CN201710628241.4
公开（公告）日 ：
2018-02-06
申请日 ：
2017-07-28
授权号 ：
CN107665897B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
森本和浩池田一岩田旬史
申请人 ：
佳能株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
宿小猛
优先权 ：
CN201710628241.4
主分类号 ：
H01L27/144
IPC分类号 ：
H01L27/144
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2018-08-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/144
申请日 : 20170728
申请日 : 20170728
2018-02-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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