光学检测系统及检测设备
公开
摘要
本发明公开了一种光学检测系统及检测设备，所述光学检测系统包括第一光源和第二光源，所述第一光源具有腔体，所述腔体具有半球形的发光面，所述第一光源的光线穿过所述腔体的内部空间射向待测物，所述腔体的腔壁上设有通孔，所述第二光源的光线穿过所述通孔和所述腔体的内部空间射向所述待测物，所述光学检测系统还包括信息采集组件，所述信息采集组件通过所述通孔采集所述第一光源的光线和所述第二光源的光线经所述待测物折返回的光学信息。应用本方案，让待测物的边缘区域位于第一光源和第二光源的照射范围内，可实现对待测物的边缘区域的有效明场照明，并且，可以使待测物的缺口斜面上也具有较高的照明效率。
基本信息
专利标题 ：
光学检测系统及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624253A
申请号 ：
CN202011466900.7
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈鲁刘健鹏张嵩
申请人 ：
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
周晓
优先权 ：
CN202011466900.7
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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