光学检测系统及设备

授权

摘要

本申请公开了一种光学检测系统及设备，包括：用于检测滚子外径面亮场缺陷的光学工位一，用于检测滚子外径面暗场缺陷的光学工位二，用于检测滚子头端倒角缺陷的光学工位三，用于检测滚子头端端面缺陷的光学工位四，用于检测滚子末端倒角缺陷的光学工位五，用于检测滚子末端端面缺陷的光学工位六，所述光学工位一、光学工位二相对设置为检测垂直方向，所述光学工位三、光学工位四相对设置为检测倾斜方向，所述光学工位五、光学工位六相对设置为检测水平方向。可实现自动对滚子的端面、圆周、倒角的外观缺陷进行检测，不仅结构简单紧凑、成本低、使用方便，而且提高了检测效率和精度。

基本信息

专利标题：

光学检测系统及设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021066957.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-11

授权号：

CN212432998U

授权日：

2021-01-29

发明人：

陈贵花聪聪

申请人：

浙江汉振智能技术有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市富阳区东洲街道高尔夫路209号第6幢

代理机构：

北京知果之信知识产权代理有限公司

代理人：

崔金

优先权：

CN202021066957.3

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88