光学式瑕疵检测系统
授权
摘要
本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统，包含：至少一子平台，该子平台承载至少一待测物；一垂直移动控制机构，分别控制该子平台升降至一对应高度；一侧面影像拍摄系统，拍摄该量测平台的该等待测物的一侧面影像；一相机移动控制机构，运作使该第二影像拍摄系统对准位于该对应高度的子平台所承载的该待测物；以及一处理单元，根据该待测物的侧面影像判断该待测物的瑕疵。
基本信息
专利标题 ：
光学式瑕疵检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921174511.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-24
授权号 ：
CN210803301U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
李彦志
申请人 ：
联策科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市桃园区龙寿街81巷10号
代理机构 ：
北京汇信合知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙腾
优先权 ：
CN201921174511.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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