瑕疵检测载盘
授权
摘要
本实用新型提供一种瑕疵检测载盘，至少一上料盘与一检测平台所构成；前述的上料盘具有一本体与数个容槽所构成，该数个容槽用于安装至少一物件，该容槽内还设置一贯穿部；该检测平台提供该上料盘装配其上进行检测；其特征在于：该检测平台设有多个定位部，每一个定位部由一定位凹部与一定位凸部所构成；该些定位凸部恰对应该容槽的位置并穿过该贯穿部，将该物件加以定位于该多个定位部的定位凸部，再者，该些定位凸部设有多个吸附孔，该多个吸附孔连接至一抽气模块，凭借该抽气模块产生负压进而让该多个吸附孔吸附该至少一物件，使得该至少一物件贴合在该定位凸部，通过定位凸部预先调整物件位置可提升检测效率。
基本信息
专利标题 ：
瑕疵检测载盘
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020054943.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-10
授权号 ：
CN211602885U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
余世琮李彦志
申请人 ：
联策科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
李林
优先权 ：
CN202020054943.3
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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