载盘翻面检测系统
授权
摘要
本实用新型提供一种载盘翻面检测系统，包含：一上/下料盘，具有多个放置轮廓，每一放置轮廓适于承载一待测物；一精密盘，具有多个限位轮廓，每一限位轮廓由多个移动限位块所界定，并与该放置轮廓呈镜射关系；一上/下料翻转机构，包含用于承载该上/下料盘的一上/下料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具，该上/下料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离，使该精密盘的限位轮廓用以承载该待测物；以及一光学影像检测系统，包含：一检测载台，用以承载该精密盘，用以检测该精密盘的每一限位轮廓所承载的该待测物的一检测面。
基本信息
专利标题 ：
载盘翻面检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921753182.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-18
授权号 ：
CN210923504U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
李彦志
申请人 ：
联策科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市桃园区龙寿街81巷10号
代理机构 ：
北京汇信合知识产权代理有限公司
代理人 ：
周文
优先权 ：
CN201921753182.4
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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