一种光电码盘表面瑕疵检测装置
授权
摘要

本申请提供一种光电码盘表面瑕疵检测装置,包括底座;定位组件,包括安装于所述底座上的旋转驱动装置;所述旋转驱动装置的驱动端连接有用于固定光电码盘的固定件;检测组件,安装于所述底座上,用于检测所述光电码盘表面的瑕疵,位置调节组件,所述旋转驱动装置通过所述位置调节组件与所述底座滑动连接,该检测装置的底座上设置有定位组件和检测组件,所述定位组件具有所述旋转驱动装置,所述旋转驱动装置的驱动端与用于固定光电码盘的固定件连接;通过所述旋转驱动装置驱动固定件带动光电码盘转动,使得光电码盘在检测过程中可以进行自动转动,便于对所述光电码盘表面进行360度全面检测。

基本信息
专利标题 :
一种光电码盘表面瑕疵检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123416505.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
CN216646299U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
孟洋殷明春
申请人 :
廊坊晶正光电技术有限公司
申请人地址 :
河北省廊坊市大厂高新技术产业开发区工业一路西段7-1号
代理机构 :
天津市鼎拓知识产权代理有限公司
代理人 :
吴露兰
优先权 :
CN202123416505.0
主分类号 :
G01N21/892
IPC分类号 :
G01N21/892  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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