光学检测系统和电子设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种光学检测系统,包括:保护层和位于保护层的下方的显示模组;光源,位于保护层的第一表面的下方,用于发射检测光束。检测光束透过显示模组和保护层出射到位于第一表面的上方的外部对象内部,并从外部对象透射出来。光源包括多个发光单元,发光单元发射的检测光束从第一表面出射的区域为照射区域,第一表面具有供外部对象接触的检测区域,从外部对象透射出来的检测光束的至少部分能够从检测区域透过并被检测模组接收,所述照射区域和检测区域之间不交叠或部分交叠,所述多个发光单元设置在相对所述检测区域的不同方向上。本实用新型还公开了一种包括上述光学检测系统的电子设备。

基本信息
专利标题 :
光学检测系统和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922388070.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-27
授权号 :
CN210052179U
授权日 :
2020-02-11
发明人 :
李问杰朱文龙
申请人 :
深圳阜时科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区桃源街道塘岭路1号金骐智谷大厦2101室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922388070.X
主分类号 :
G06K9/00
IPC分类号 :
G06K9/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
法律状态
2020-02-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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