光学检测设备及光学器件制造设备
授权
摘要
本实用新型提供一种光学检测设备及光学器件制造设备，包括：调制器件，包含空间光调制器，所述空间光调制器包括第一光输入端、光输出端和第一控制端，所述第一光输入端设置于待测器件输出光线的光路上，接收从待测器件输出的光线；检测设备，包括第二光输入端和第二控制端，所述第二光输入端设置于所述光输出端输出光线的光路上，接收从所述调制器件输出的光线；控制器，分别与所述第一控制端和所述第二控制端电连接。
基本信息
专利标题 ：
光学检测设备及光学器件制造设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020339840.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-17
授权号 ：
CN211602365U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
谈顺毅
申请人 ：
上海慧希电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区伟德路6号1104室
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
李佳俊
优先权 ：
CN202020339840.1
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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