光学器件的检测装置及检测方法
授权
摘要

本发明涉及光学器件的检测装置及检测方法。依据本发明所提供的光学器件的检测装置,包含:用于向所述光学器件射出光的激光器;对于所述激光器射出光的相位进行变更的相位变更部;用于将通过所述光学器件的光按特定方向偏振的偏振部;用于集中所偏振光的集光部;用于将所集中的光变换为电信号的光二极管;用于处理所述电信号的信号处理部。据此提供可以测定板状光学器件的双折射和厚度变形程度的光学器件的检测装置及检测方法。

基本信息
专利标题 :
光学器件的检测装置及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1904674A
申请号 :
CN200610007307.X
公开(公告)日 :
2007-01-31
申请日 :
2006-02-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
普特波夫·维拉帝莫赵成训李锡原李文九金洸秀
申请人 :
三星电子株式会社
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 :
郭鸿禧
优先权 :
CN200610007307.X
主分类号 :
G02F1/13
IPC分类号 :
G02F1/13  G01N21/23  G01N21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
法律状态
2008-12-17 :
授权
2007-03-28 :
实质审查的生效
2007-01-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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