一种精密光学元器件检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及光学元器件检测技术领域，且公开了一种精密光学元器件检测装置，包括检测板，所述检测板顶部的左右两侧均固定连接有限位座，两个所述限位座的内侧均螺纹连接有螺纹调节杆，两个所述螺纹调节杆的相背侧均固定连接有转柄，两个所述螺纹调节杆的相对侧均活动连接有限位环，两个所述限位环的外部均固定连接有定位板，两个所述定位板的外部均固定连接有防滑片，两个所述限位座的内侧均插接有透光率检测仪。该精密光学元器件检测装置，其整体结构精简且便于在保证安全性和稳定性的情况下对光学元器件进行检测，同时调节过程十分方便，从而有效的解决了便携式透光率仪在使用时需要手动定位，因此安全性和稳定性不足的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种精密光学元器件检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022531037.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-05
授权号 ：
CN213397589U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
陈伟平何炳宽
申请人 ：
福州志一光电有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市闽侯县南屿镇元峰路小后山76号福建路政工业园2号楼5层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022531037.0
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01N21/59
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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