检测设备及检测系统
授权
摘要

一种检测设备及检测系统,涉及工件尺寸测量技术领域,所述检测设备包括:透明载物台、面光源、反射机构和图像采集机构;所述透明载物台用于放置被测工件;所述面光源发出的平行光线经由所述反射机构反射后射向所述透明载物台,所述平行光线透过所述透明载物台后射向所述图像采集机构所在方向;所述图像采集机构的镜头朝向所述透明载物台,所述图像采集机构用于采集所述透明载物台上放置的被测工件的图像。本申请提供的检测设备应用于检测系统,由于透过透明载物台射出的光线为平行光,因此使得工件边缘区域漫反射减少,模糊度降低,检测精度提高。

基本信息
专利标题 :
检测设备及检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921217915.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-30
授权号 :
CN209978819U
授权日 :
2020-01-21
发明人 :
王亚辉王亚平
申请人 :
王亚辉
申请人地址 :
湖南省湘潭市雨湖区解放南路湘建村15栋5单元3号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
刘曾
优先权 :
CN201921217915.2
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B11/12  G01B11/14  G01B11/06  G01B11/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-01-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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