场强计的改良结构
专利权的终止
摘要
本实用新型为一种场强计的改良结构，主要用以测量高频信号的电场强度，将用以做为信号传输与避免噪声干扰的高电阻膜直接印在电路板上，形成传导与滤波的功能，获致预期的效能，而具有制造取得容易，与成本低廉使用便利的实用性。
基本信息
专利标题 ：
场强计的改良结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620137513.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-10-12
授权号 ：
CN200968971Y
授权日 ：
2007-10-31
发明人 ：
林东昌
申请人 ：
林东昌
申请人地址 ：
中国台湾
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
孙皓晨
优先权 ：
CN200620137513.8
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08 G01R15/00 G01R1/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2011-01-05 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101028890506
IPC(主分类) : G01R 29/08
专利号 : ZL2006201375138
申请日 : 20061012
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 20091112
号牌文件序号 : 101028890506
IPC(主分类) : G01R 29/08
专利号 : ZL2006201375138
申请日 : 20061012
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 20091112
2007-10-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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