可变裂缝测试装置
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型提供一种测试无损检测设备的裂缝检测能力的装置。本实用新型可变裂缝测试装置包括两片对称布置的厚度渐变的裂缝形成板、两根紧固螺栓以及插装在两片裂缝形成板之间的两把厚度相同的塞规,其中两把塞规分布在裂缝形成板的两端部,通过改变塞规的厚度来改变两片裂缝形成板之间裂缝的宽度;在两片裂缝形成板的上表面对应地设置有厚度指示线,其中一个裂缝形成板上设有若干个裂缝深度指示通孔。本实用新型是一个可变裂缝宽度的、且在同一裂缝宽度下有不同裂缝深度的测试装置。适合于射线成像无损检测系统检测裂缝的特点,通过调整本实用新型的装置中裂缝的宽度,经无损检测设备检测成像,查看此成像便可确定检测设备的裂缝检测能力。
基本信息
专利标题 :
可变裂缝测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620167401.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-08
授权号 :
CN200979534Y
授权日 :
2007-11-21
发明人 :
林东李元景康克军苗齐田赵自然张丽刘以农吴万龙罗希雷唐乐
申请人 :
清华同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座二层
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
刘长威
优先权 :
CN200620167401.7
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2011-01-05 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101058464295
IPC(主分类) : G01N 23/18
专利号 : ZL2006201674017
申请日 : 20061208
授权公告日 : 20071121
放弃生效日 : 20061208
号牌文件序号 : 101058464295
IPC(主分类) : G01N 23/18
专利号 : ZL2006201674017
申请日 : 20061208
授权公告日 : 20071121
放弃生效日 : 20061208
2008-01-02 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 清华同方威视技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 北京市海淀区双清路同方大厦A座二层,邮编 : 100084
变更后权利人 : 同方威视技术股份有限公司
变更后权利人 : 北京市海淀区双清路同方大厦A座二层,邮编 : 100084
变更事项 : 共同专利权人
变更前权利人 : 清华大学
变更后权利人 : 清华大学
变更前权利人 : 清华同方威视技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 北京市海淀区双清路同方大厦A座二层,邮编 : 100084
变更后权利人 : 同方威视技术股份有限公司
变更后权利人 : 北京市海淀区双清路同方大厦A座二层,邮编 : 100084
变更事项 : 共同专利权人
变更前权利人 : 清华大学
变更后权利人 : 清华大学
2007-11-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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