用于单纳米颗粒检测的装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种适用于单纳米颗粒检测的光子晶体传感器。它可以检测非常小的单个颗粒和单个分子。该传感器可以适用于进行差动测量。
基本信息
专利标题 ：
用于单纳米颗粒检测的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1942794A
申请号 ：
CN200680000087.6
公开（公告）日 ：
2007-04-04
申请日 ：
2006-02-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
安纳特斯·C·格洛特劳拉·威尔斯·米尔卡里米米哈伊尔·M·西加拉斯周启祥
申请人 ：
安捷伦科技有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
李瑞海
优先权 ：
CN200680000087.6
主分类号 ：
G02B6/00
IPC分类号 ：
G02B6/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B6/00
光导；包含光导和其他光学元件的装置的结构零部件
法律状态
2009-12-16 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-05-07 ：
实质审查的生效
2007-04-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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