沉积、检测和鉴别威胁物质的系统和方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

将威胁物质样品沉积在基底上的系统和方法。所述威胁物质的鉴别与威胁物质样品在基底上的沉积基本同时。将威胁物质样品沉积在基底上的系统和方法。单个照明源用大量的光子对沉积在基底上的威胁物质进行照射，由此产生弹性散射光子和拉曼散射光。鉴别位于基底上的威胁物质。所述系统和方法在触发模式下工作，以检测威胁物质的存在与否，在鉴别模式下工作，以鉴别威胁物质。

基本信息

专利标题：

沉积、检测和鉴别威胁物质的系统和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101535792A

申请号：

CN200680011539.0

公开（公告）日：

2009-09-16

申请日：

2006-02-09

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

P·J·特里多C·W·小加纳J·S·迈尔

申请人：

化学影像公司

申请人地址：

美国宾夕法尼亚州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

刘锴

优先权：

CN200680011539.0

主分类号：

G01N21/00

IPC分类号：

G01N21/00 G01J3/44 G01N21/47

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N21/00

利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料

法律状态

2011-08-31 ：

发明专利申请公布后的视为撤回

号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101181492472
IPC(主分类) : G01N 21/00
专利申请号 : 2006800115390
公开日 : 20090916

2009-11-11 ：

实质审查的生效

2009-09-16 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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