高精密金属箔电阻器仪表测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种高精密金属箔电阻器仪表测量装置,特别是高精密金属箔电阻器工业仪表测量装置设备。它是由镍铬合金箔材料粘贴在氧化铝陶瓷基片上,采用半导体刻蚀工艺的电阻栅条图形和焊接区构成电阻芯片,电阻器内设置单片电阻芯片或者设置多片电阻芯片,电阻芯片上设置粗中细调调节器,内外引线分别连接焊接区引出电极,内引线的一端与电阻芯片上焊接区连接,内引线的另一端和外引线与垫片焊接后固定在电阻芯片的背面,电阻芯片装置在机壳内,由密封胶密封固定。效果是平面结构设计,分布电感量和分布电容量很小,频率特性稳定,阻值精度达到±0.005%,阻值范围为佳0.1Ω~720KΩ,广泛用于高精密金属箔电阻器工业仪表测量装置设备上。

基本信息
专利标题 :
高精密金属箔电阻器仪表测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720025043.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-04
授权号 :
CN201060712Y
授权日 :
2008-05-14
发明人 :
李本善丁福藏王承业王玉山
申请人 :
济宁正和电子有限责任公司
申请人地址 :
272023山东省济宁市高新技术开发区机电工业园路机电一路
代理机构 :
济宁众城专利事务所
代理人 :
江禹春
优先权 :
CN200720025043.0
主分类号 :
H01C7/00
IPC分类号 :
H01C7/00  H01C13/00  G01R27/00  G01R35/00  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01C
电阻器
H01C7/00
用一层或多层薄膜或涂敷膜构成的不可调电阻器;由含或不包含绝缘材料的粉末导电材料或粉末半导体材料构成的不可调电阻器
法律状态
2012-09-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101321956344
IPC(主分类) : H01C 7/00
专利号 : ZL2007200250430
申请日 : 20070704
授权公告日 : 20080514
终止日期 : 20110704
2008-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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