振动法测量弱磁场梯度的探头
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种振动法测量弱磁场梯度的探头装置,所述的探头包括外壳、振动部件和磁传感器,其中振动部件为悬臂梁结构的压电双晶片,磁传感器安装在压电双晶片的自由端;传感器用于测量磁场强度,可以是线圈、集成线性霍尔元件、磁阻或者为巨磁阻传感器。压电双晶片加恒定频率的交变电压后带动传感器振动,完成振动法测量磁场梯度的功能。本实用新型探头具有结构简单、体积小、测量灵敏度高、成本低等优点;可用于测量弱磁场梯度的任何场所。
基本信息
专利标题 :
振动法测量弱磁场梯度的探头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720043288.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-20
授权号 :
CN201063056Y
授权日 :
2008-05-21
发明人 :
蹇兴亮
申请人 :
南京农业大学
申请人地址 :
210095江苏省南京市玄武区卫岗1号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200720043288.6
主分类号 :
G01R33/022
IPC分类号 :
G01R33/022
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/022
测量梯度
法律状态
2012-10-31 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101339149356
IPC(主分类) : G01R 33/022
专利号 : ZL2007200432886
申请日 : 20070820
授权公告日 : 20080521
终止日期 : 20110820
号牌文件序号 : 101339149356
IPC(主分类) : G01R 33/022
专利号 : ZL2007200432886
申请日 : 20070820
授权公告日 : 20080521
终止日期 : 20110820
2008-05-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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