一种电子产品高温老化低温冷却装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要

本实用新型公开了一种电子产品高温老化低温冷却装置,通过这套装置能大大地降低电子产品在老化处理过程中所需的能耗,实现高效低耗的目的。该装置在高温老化室与低温冷却室之间设有高温热泵机组,该高温热泵机组通过高温送风机、高温送风管、高温回风管与高温老化室形成热风循环气流;该高温热泵机组通过低温送风机、低温送风管、低温回风管与低温冷却室形成冷风循环气流;该高温热泵机组还设有温度控制器和低温冷却室温度调节机构,分别对高温老化室和低温冷却室进行温度调节。本实用新型主要应用于电子产品的高温老化、低温冷却场合中,也适合于需要高、低温环境的生产车间应用。

基本信息
专利标题 :
一种电子产品高温老化低温冷却装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720052343.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-05-30
授权号 :
CN201037858Y
授权日 :
2008-03-19
发明人 :
华寿庆
申请人 :
华寿庆
申请人地址 :
528000广东省佛山市禅城区江湾一路27号506信箱
代理机构 :
佛山市永裕信专利代理有限公司
代理人 :
朱永忠
优先权 :
CN200720052343.8
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2009-09-09 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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