三阶相关测量仪

专利权的终止

摘要

一种用于强激光脉冲三次谐波测量的三阶相关测量仪，其结构包括：在仪器的底板上，沿着入射光束G前进的方向上，依次固定有第一小孔光阑、第二小孔光阑、倍频晶体和分束片，入射光束G经该分束片后分成两束光：透射光束G[t]和反射光束G[f]，透射光束G[t]经过时间延迟的第一直角反射镜、第二反射镜、半波片、第三反射镜到达短焦透镜，所述的反射光束G[f]经过第四反射镜、第二直角反射镜达到所述的短焦透镜，并与所述的透射光束G[t]同时会聚于谐波晶体上，沿着该谐波晶体产生的三次谐波光束G[s]前进的方向上，在底板上依次固定有滤波片、定标衰减片和探测元件。本实用新型具有操作简单，易于调节，测量准确，测量范围广的优点。

基本信息

专利标题：

三阶相关测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720067316.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-02-13

授权号：

CN201003984Y

授权日：

2008-01-09

发明人：

张春梅刘军李闯李儒新梁晓燕

申请人：

中国科学院上海光学精密机械研究所

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

优先权：

CN200720067316.8

主分类号：

G01J11/00

IPC分类号：

G01J11/00