热处理玻璃局部弯曲度测量仪

专利权的终止

摘要

本实用新型提供一种热处理玻璃平整度测试仪器，该测量仪是利用现有的数显千分表，设计一测量杆与数显千分表连接，测量杆上连接有测量头，用该测量杆和测量头取代数显千分表的针型探头，测量杆通过一夹紧套固定在一表座上，表座固定在测量长度为300mm铝合金板上，铝合金板下面垫有数块铝合金压块，压块下面垫有聚四氟乙烯板，测量头穿过铝合金板和聚四氟乙烯板，与下面被测玻璃表面移动接触，在千分表上直接读出波峰和波谷的数值；本实用新型的优点是，可以在生产过程中快速、准确地测量热处理玻璃的局部弯曲或波形，及时控制热处理玻璃产品质量。

基本信息

专利标题：

热处理玻璃局部弯曲度测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720071909.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-06-29

授权号：

CN201081681Y

授权日：

2008-07-02

发明人：

潘伟孙大海顾秋伟陆超峰沈国全王龙梅林广利谢建强周才富

申请人：

上海耀华皮尔金顿玻璃股份有限公司

申请人地址：

200126上海市浦东新区济阳路100号

代理机构：

上海东亚专利商标代理有限公司

代理人：

罗习群

优先权：

CN200720071909.1

主分类号：

G01B5/20

IPC分类号：

G01B5/20