激光双模式微体积样品分析装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
一种激光双模式微体积样品分析装置，至少包括光学检测调制部分、毛细管电泳仪和信号采集处理部分，其特征在于：光学检测调制部分中的半导体激光器(1)、斩光器(2)、分束器(3)、聚焦透镜(4)、微检测池(5)、高通滤光片(11)和光电检测器件(12)依次排列，且中心均位于同一水平线，分束器(3)垂直方向设有热透镜检测激光器(6)，微检测池(5)垂直方向依次设有显微物镜(7)、光阑(8)、带通滤光片(9)和光电检测器件(10)，其中微检测池(5)为毛细管电泳仪的中去除外保护层的一段毛细管，信号采集处理部分中的计算机(21)与光电检测器件(10)之间设有锁相放大器(19)，计算机(21)和光电检测器件(12)之间设有锁相放大器(20)，斩光器(2)上设有斩光器控制器(18)，且斩光器控制器(18)通过锁相放大器(19)和锁相放大器(20)与计算机(21)连接。
基本信息
专利标题 ：
激光双模式微体积样品分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720089021.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-12-14
授权号 ：
CN201110825Y
授权日 ：
2008-09-03
发明人 ：
胡继明熊博周晓东
申请人 ：
武汉大学
申请人地址 ：
430072湖北省武汉市武昌珞珈山
代理机构 ：
武汉华旭知识产权事务所
代理人 ：
刘荣
优先权 ：
CN200720089021.0
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00 G01N21/64 G01N21/45 G01N30/74 G01N30/78
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
2010-02-17 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-09-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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