样品后置型双焦面探测的激光粒度仪
专利权的终止
摘要

一种样品后置型双焦面探测的激光粒度仪。该激光粒度仪包括依次位于光轴上的激光发射器及空间滤波器、第一透镜、样品(池)、位于第一透镜后的等效焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合等效焦平面上的第二多元光电探测器。本实用新型提供的激光粒度仪不需改变焦距或等效焦距,一次就能完成整个量程范围内的粒度测量,扩大了动态范围;将大尺寸探测器化为小尺寸探测器,使加工更加容易;多元光电探测器可整体制作,光电特性一致性好,所以对于信号采集有利;容易获得无探测盲区的信号。

基本信息
专利标题 :
样品后置型双焦面探测的激光粒度仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720099723.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-28
授权号 :
CN201083671Y
授权日 :
2008-07-09
发明人 :
葛宝臻魏永杰魏耀林
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
300072天津市南开区卫津路92号天津大学精仪学院
代理机构 :
天津佳盟知识产权代理有限公司
代理人 :
李益书
优先权 :
CN200720099723.7
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01N21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2017-10-31 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 15/02
申请日 : 20070928
授权公告日 : 20080709
2008-07-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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