双源三维立体成像系统
专利权的终止
摘要
本实用新型提出了一种新型三维立体成像系统,采用双X射线源和双探测器,两个X射线源分别沿两条成一定角度且错开布置的直线导轨运动,探测器阵列固定,而被检测物体则沿垂直于X射线源和探测器所在平面的直线运动。该成像系统能够实现真正的三维立体成像,并且具有结构相对简单,待检测物体或者X射线源及探测器不需要旋转,检查速度较快,货物通过速度较高等特点;因此本实用新型具有应用于快速安全检查领域和大物体检查领域的潜力。和单源单直线扫描结构相比,本实用新型能够实现真正意义的三维图像检查,图像质量明显好于单源单直线扫描系统。
基本信息
专利标题 :
双源三维立体成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720103315.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-01-24
授权号 :
CN201021923Y
授权日 :
2008-02-13
发明人 :
张丽康克军刘以农李元景邢宇翔李亮赵自然肖永顺
申请人 :
清华大学同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区清华大学
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
陈瑞丰
优先权 :
CN200720103315.4
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04 G03B43/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2014-03-26 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101581063344
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2007201033154
申请日 : 20070124
授权公告日 : 20080213
终止日期 : 20130124
号牌文件序号 : 101581063344
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2007201033154
申请日 : 20070124
授权公告日 : 20080213
终止日期 : 20130124
2008-02-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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