本实用新型公告了一种二极管寿命测试仪，包括温度试验箱、电源提供模块、负载、电性能采集模块和主控装置；待测二极管置于温度试验箱内，温度试验箱为待测二极管提供加速老化环境；电源提供模块、负载和待测二极管串联形成测试回路；电性能采集模块连接在待测二极管与主控装置之间，电性能采集模块采集待测二极管在通有电源时的反馈电信号并输出至主控装置，主控装置接收、分析反馈电信号以得出测试结果。本实用新型可以对不同公司的、不同时期所开发的各种型号的二极管进行寿命测试，而且测试结果具有可比性、可追溯性，具有很高的经济效益。