分层摄影检测系统
专利权的终止
摘要

一种分层摄影检测系统,包括辐射源、多个线型图像探测器、固定桌面、与计算装置;其中多个图像探测器可以定义图像平面,固定桌面可以将待测物体固定于辐射源与图像探测器之间,而计算装置则可以处理探测器所获得的多个对象图像。辐射源与图像探测器可在待测物体上进行多个平行的线型扫描,以经由不同角度,取得待测物体的图像。利用上述方法取得图像数据之后,计算装置可以定义弯曲补偿,接着重建待测物体之中特定区段的截面图像。该分层摄影检测系统可利用便利的弯曲补偿计算方法,获得待测物体中特定平面的截面图像。

基本信息
专利标题 :
分层摄影检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720157192.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-14
授权号 :
CN201199234Y
授权日 :
2009-02-25
发明人 :
温光溥陈世亮李孟坤
申请人 :
德律科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
王英
优先权 :
CN200720157192.2
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G03B42/02  G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2017-09-26 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101749620259
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2007201571922
申请日 : 20070814
授权公告日 : 20090225
终止日期 : 无
2009-02-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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