一种电子控制模块测试装置及系统
专利权的终止
摘要
本实用新型适用于测试领域，提供了一种电子控制模块测试装置及系统。包括，控制电脑，与控制电脑连接的下位机。下位机进一步包括，连接器，连接下位机与被测电子控制模块，输出测试信号至被测电子控制模块的测试端口，接收被测电子控制模块驱动端口返回的状态信息；下位机控制器，连接控制电脑和连接器，接收控制电脑测试指令，执行测试步骤。本实用新型根据被测电子控制模块配置相应的测试指令，通过通用的下位机和连接线路，接收并执行控制电脑的测试指令，实现对现有或者新增电子控制模块的测试，测试准确、效率高，通用性很强。
基本信息
专利标题 ：
一种电子控制模块测试装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720170987.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-23
授权号 ：
CN201145714Y
授权日 ：
2008-11-05
发明人 ：
周宇奎苏茂田龙光展
申请人 ：
比亚迪股份有限公司
申请人地址 ：
518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
代理机构 ：
深圳中一专利商标事务所
代理人 ：
张全文
优先权 ：
CN200720170987.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M17/007
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2018-01-12 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20071123
授权公告日 : 20081105
终止日期 : 20161123
申请日 : 20071123
授权公告日 : 20081105
终止日期 : 20161123
2008-11-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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