翻盖偏移量测试装置

专利权的终止

摘要

本实用新型适用于位移测试装置领域，提供一种翻盖偏移量测试装置，包括用于固持被测试产品的固持组件、用于推动固持在固持组件上的被测试产品翻盖的推动组件和用于根据推动组件位移大小而使其电路呈断开或接通状态的测试结果显示组件，所述推动组件和测试结果显示组件安装于固持组件上，所述推动组件推动被测试产品向测试结果显示组件移动。所述推动组件推动放置在固持组件中的被测试产品翻盖的同时，向测试结果显示组件移动，测试结果显示组件根据推动组件位移的大小而使其电路呈断开或接通状态，从而显示不同的测试结果。该装置操作方便。

基本信息

专利标题：

翻盖偏移量测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720171415.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-12-05

授权号：

CN201145581Y

授权日：

2008-11-05

发明人：

王合祥易万宏宋洁容胜丰

申请人：

比亚迪股份有限公司

申请人地址：

518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园

代理机构：

深圳中一专利商标事务所

代理人：

陈健

优先权：

CN200720171415.0

主分类号：

G01D5/12

IPC分类号：

G01D5/12