一种翻盖下压式微针测试装置
授权
摘要

本实用新型属于测试治具技术领域,公开一种翻盖下压式微针测试装置,包括上盖、底座与旋钮,所述上盖和底座的一端互相铰接,两者的另一端设有锁扣组件以实现连接;所述上盖与所述底座盖合时,两者之间设有放置待测试产品的腔体;所述上盖开设螺纹孔,所述旋钮凸出于所述上盖的表面并可通过所述螺纹孔旋入或旋出所述腔体;所述腔体底部设有放置探针的定位孔。其技术效果在于:旋钮活动连接与所述上盖上,可以通过旋钮的转动实现力的加载,这种加载方式更加使得压力更加可控和平稳。

基本信息
专利标题 :
一种翻盖下压式微针测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021007410.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-04
授权号 :
CN212965029U
授权日 :
2021-04-13
发明人 :
黄庆云
申请人 :
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 :
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 :
陈丽燕
优先权 :
CN202021007410.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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