一种垂直下压浮动式微针测试设备

授权

摘要

本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备，包括底座，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，与所述底座一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

基本信息

专利标题：

一种垂直下压浮动式微针测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921090479.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-12

授权号：

CN210401475U

授权日：

2020-04-24

发明人：

黄庆云

申请人：

深圳市振云精密测试设备有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层

代理机构：

深圳市龙成联合专利代理有限公司

代理人：

陈丽燕

优先权：

CN201921090479.7

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/28