本实用新型公开了一种微针测试设备构架，包括能够定位摄像头模组的定位座、位于定位座旁侧的第一探针和第二探针驱动模组，定位座的旁侧设有翻转式的吸附模组，吸附模组能够吸附软排线；向定位座方向翻转所述吸附模组，吸附模组上的软排线能够与摄像头模组的电路模块的导电体接触。吸附模组上的软排线与摄像头模组的电路模块的导电体接触后，第一探针与软排线上的触点接触，第二探针与摄像头模组的电路模块上的导电体接触，对软排线上的触点和导电体之间的内阻，以及触点与触点是否短路进行测试。本实用新型涉及设备的机械构架，为摄像头模组的软排线与电路模块之间的电连接关系的预检测提供硬件条件，以保证预检测的顺利进行。