一种微针测试设备
授权
摘要

本实用新型属于测试治具技术领域,涉及一种省力垂直浮动式微针测试设备,包括底座、翻盖、摆动臂、拨杆、上压片和压块组件,所述翻盖上设置有摆动臂,通过转动摆动臂进而转动拨杆带动上压片,并在压块连接板与压块之间设置弹性件,达到灵活调节对PCB板的压力,防止PCB板直接与探针接触,避免损坏探针和刮伤PCB板;所述翻盖上端设置摆动臂,增加使用时按压翻盖的力矩,从而达到操作省力的效果。

基本信息
专利标题 :
一种微针测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921086357.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-19
授权号 :
CN211826141U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
黄庆云
申请人 :
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 :
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 :
陈丽燕
优先权 :
CN201921086357.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R1/07  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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