一种侧面下针式弹片微针测试模组
授权
摘要

本实用新型公开了一种侧面下针式弹片微针测试模组,旨在提供一种结构简单操作简易、并使用侧面接触待测产品的一种侧面下针式弹片微针测试模组。本实用新型包括底座、测试组件、定位板、浮动块以及封板,所述测试组件与所述底座相连接,所述定位板与所述测试组件配合连接,所述浮动块通过若干弹簧与所述定位板浮动连接,所述封板与所述浮动块贴合并与所述定位块相连接。本实用新型应用于连接器测试的技术领域。

基本信息
专利标题 :
一种侧面下针式弹片微针测试模组
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122355420.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-28
授权号 :
CN216209357U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
尹静军杨先昭谢时雨
申请人 :
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 :
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 :
王贤义
优先权 :
CN202122355420.X
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/04  G01R31/69  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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