微针电子测试系统
授权
摘要
本实用新型提供了微针电子测试系统，包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。本实用新型提供人微针电子测试系统可在一次连接测试中分别进行高压、恒流及采样测试。
基本信息
专利标题 ：
微针电子测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020717398.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-30
授权号 ：
CN212646893U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
李志雄赵伟林梁树彬郑荣达蔡宇薛日胜杨进权周家进陈晓敏
申请人 ：
珠海博杰电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一楼-1、二、三、四楼
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
肖宇扬
优先权 ：
CN202020717398.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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