一种微针测试设备
授权
摘要
本实用新型提供一种微针测试设备，涉及一种软排自动吸稳浮动式微针自动化测试设备;包括箱体、上模组件和下模组件,下模组件对待测产品进行外形定位和真空吸稳，防止待测产品弹起,上模下压并使微针导通开始测试，测试完成后取出产品并开始进行下一轮的产品测试。通过简化操作流程,方便使用者进行使用操作,进一步提高工作效率,并且,待测产品直接放入载板无需进行二次转接，从而降低重测的几率。
基本信息
专利标题 ：
一种微针测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921086155.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-12
授权号 ：
CN211374955U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
黄庆云
申请人 ：
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 ：
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 ：
陈丽燕
优先权 ：
CN201921086155.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/067
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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