本实用新型属于微针测试技术领域，涉及一种用于微针测试设备的下模机构及测试设备。所述用于微针测试设备的下模机构，包括第一转接针组件、第二转接针组件和载板，所述第二转接针组件设于第一转接针组件和载板之间，所述第一转接针组件和第二转接针组件连接；所述第一转接针组件包括第一转接板和针板，所述针板上设有第一探针，所述第一探针与第一转接板连接；所述第二转接针组件包括第二转接板；所述第二转接板上设有第二探针，所述第二探针的一端穿过载板并外露于载板远离第二转接板的一侧。本实用新型通过设置两组探针，可以有效避免检测信号损耗，提高检测质量及效率。