一种垂直下压式微针测试设备
授权
摘要
本实用新型属于微针测试技术领域,涉及一种垂直下压式微针测试设备,包括产品载具和盖板,所述产品载具和盖板转动连接;所述产品载具上设有测试组件;所述盖板对应测试组件的上方设有压块,所述压块浮动连接于盖板靠近产品载具的一侧;所述盖板远离产品载具一侧转动连接有凸轮把手,所述凸轮把手的凸轮与压块接触;所述凸轮把手远离凸轮的一端设有第三磁铁;所述盖板上设有与第三磁铁配合的第一磁铁和第二磁铁,所述第一磁铁和第二磁铁分居于盖板与凸轮把手连接位置的两端。本实用新型可实现压块的垂直下压,避免检测产品发生偏移。
基本信息
专利标题 :
一种垂直下压式微针测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921086154.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-12
授权号 :
CN210401472U
授权日 :
2020-04-24
发明人 :
黄庆云
申请人 :
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 :
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 :
陈丽燕
优先权 :
CN201921086154.1
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-04-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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