一种垂直下压式微针测试设备

授权

摘要

本实用新型属于微针测试技术领域，涉及一种垂直下压式微针测试设备，包括产品载具和盖板，所述产品载具和盖板转动连接；所述产品载具上设有测试组件；所述盖板对应测试组件的上方设有压块，所述压块浮动连接于盖板靠近产品载具的一侧；所述盖板远离产品载具一侧转动连接有凸轮把手，所述凸轮把手的凸轮与压块接触；所述凸轮把手远离凸轮的一端设有第三磁铁；所述盖板上设有与第三磁铁配合的第一磁铁和第二磁铁，所述第一磁铁和第二磁铁分居于盖板与凸轮把手连接位置的两端。本实用新型可实现压块的垂直下压，避免检测产品发生偏移。

基本信息

专利标题：

一种垂直下压式微针测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921086154.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-12

授权号：

CN210401472U

授权日：

2020-04-24

发明人：

黄庆云

申请人：

深圳市振云精密测试设备有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层

代理机构：

深圳市龙成联合专利代理有限公司

代理人：

陈丽燕

优先权：

CN201921086154.1

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04