测试机自动下压结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种测试机自动下压结构，包括：支撑组件，包括支撑架、支撑板及升降导轨副；下压组件，包括升降气缸、下压板、针板、多个探针及针形气缸；升降气缸用于驱动下压板沿着升降导轨副进行滑动；探针用于抵接待测电路板上的各个焊盘；触摸测试组件，包括固定架、触摸伸缩气缸及触摸笔；触摸伸缩气缸用于驱动触摸笔点击触摸屏；及CCD测试组件，包括相机支架及CCD相机；CCD相机用于拍摄显示屏。上述测试机自动下压结构，结构简单，功能强大，探针抵接待测电路板使得待测电路板得电，利用针形气缸测试各个按键弹片，触摸笔点击触摸屏，CCD相机拍摄显示屏，可同时测试血糖分析仪的多个模块，提高检测效率，有效满足实际生产需求。
基本信息
专利标题 ：
测试机自动下压结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122598030.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-27
授权号 ：
CN216594200U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
章微
申请人 ：
东莞长城开发科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市虎门镇赤岗骏马路2号
代理机构 ：
东莞市明诺知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈思远
优先权 ：
CN202122598030.5
主分类号 ：
G01M99/00
IPC分类号 ：
G01M99/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M99/00
本小类其他组中不包括的技术主题
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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