下压测试盖

授权

摘要

本实用新型提供了一种下压测试盖，包括上盖、底座、卡钩和下压件，上盖的上端与底座的上端铰接，卡钩与底座的下端铰接，下压件的下端与底座的下端铰接，下压时，卡钩的上端勾住上盖的下端，并将上盖固定在底座上，下压件压在上盖上。下压时，通过下压件施力，使得卡钩和下压件共同作用在上盖上，增大了测试盖的受力，从而不会导致IC芯片与测试座接触不良，不会影响IC芯片的测试，同时，下压件在工作时采用了杠杆原理，具有施力方便和下压力量大等优点。

基本信息

专利标题：

下压测试盖

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920939491.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-21

授权号：

CN210270074U

授权日：

2020-04-07

发明人：

刘泽鑫

申请人：

深圳市容微精密电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区观澜樟坑径金倡达科技园F栋2楼

代理机构：

深圳鸿业专利代理有限公司

代理人：

朱海东

优先权：

CN201920939491.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04