下压保护装置及ICT测试冶具
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摘要

本实用新型涉及一种下压保护装置及ICT测试冶具,各开关模块依次串联,串联形成的电路的一端连接下压信号源,串联形成的电路的另一端连接下压控制装置,在开关模块与胚料间处于预设位置关系时,开关模块导通。在胚料放置到位时,各开关模块均与胚料间处于预设位置关系,即各开关模块均导通。此时,开关模块依次串联形成的电路为通路,下压信号源的下压信号通过通路输出至下压控制装置,以使下压控制装置控制上盖下压;在胚料未放置到位时,存在开关模块无法满足预设位置关系,串联形成的电路无法导通,上盖无法下压。基于此,在胚料未放置到位时,防止上盖下压对胚料的损坏,从而有效的防止产品测试时不会被压报废,减少了企业生产的报废费用。

基本信息
专利标题 :
下压保护装置及ICT测试冶具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920725867.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-20
授权号 :
CN210129018U
授权日 :
2020-03-06
发明人 :
代光泉
申请人 :
广州视琨电子科技有限公司;广州视源电子科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省广州市黄埔区连琨路6号
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
陈金普
优先权 :
CN201920725867.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-03-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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