一种放射摄影探测器光路系统测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种放射摄影探测器光路系统测试装置,包括放置在一支架上的光源、闪烁屏或毛玻璃、相机,所述光源设置于所述闪烁屏或毛玻璃的上端,所述相机设置于所述闪烁屏或毛玻璃的下端。由于本实用新型放射摄影探测器光路系统测试装置使用普通光源替代X射线,并且将放射摄影探测器光路系统的测试调整简化为对相机的位置调整,将放射摄影探测器光路系统的测试分离到测试装置上进行,因此避免了X射线对人员及设备的伤害,大大提高了放射摄影探测器光路系统的测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种放射摄影探测器光路系统测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720171863.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-18
授权号 :
CN201107281Y
授权日 :
2008-08-27
发明人 :
滕久宏汤红乔
申请人 :
深圳市蓝韵实业有限公司
申请人地址 :
518034广东省深圳市福田区景田北路81号碧景园E栋601
代理机构 :
北京必浩得专利代理事务所
代理人 :
关松寿
优先权 :
CN200720171863.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  A61B6/00  G03B42/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2015-11-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101632296469
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL2007201718630
申请日 : 20070918
授权公告日 : 20080827
终止日期 : 20140918
2008-08-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332