一种光电器件参数监测设备
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要

本发实用新型明涉及一种光电器件参数监测设备,属于光电子技术领域。为了改善现有光电器件实时监控结构要求参数采集设备数量与所测光电器件数量上相等,在大批量光电器件测试、筛选、老化的整个过程中成本高、效率低的不利现状,本实用新型采用的技术方案是:将多个待测光电器件置于器件架上,运动控制系统根据实际测试需要通过控制运动设备驱动数据采集设备在导轨上运动以采集器件架上所需器件的输出参数,进而记录到数据记录系统中。本实用新型与传统结构及制造方法相比具其优点在于利用一个数据采集设备就能够完成对多个光电器件的输出参数进行采集和自动记录,适用于大批量光电器件的测试、筛选、老化过程,提高了效率,节约了成本。

基本信息
专利标题 :
一种光电器件参数监测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720173708.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-10-19
授权号 :
CN201107374Y
授权日 :
2008-08-27
发明人 :
尧舜
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
张慧
优先权 :
CN200720173708.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2010-02-10 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-08-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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