一种光电器件参数检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。
基本信息
专利标题 ：
一种光电器件参数检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922431550.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN212693949U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
杨扬
申请人 ：
西安灵图电磁技术有限责任公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区丈八街办锦业一路6号永利国际金融中心1座3楼06单元
代理机构 ：
西安智萃知识产权代理有限公司
代理人 ：
李炳辉
优先权 ：
CN201922431550.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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