器件寿命检测设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种器件寿命检测设备,包括:检测模块,用于对多个待检测器件进行实时检测,获取检测结果;检测结果包括每个待检测器件的多个工作参数;主控芯片,用于接收检测模块发送的检测结果,并基于检测结果对每个待检测器件的寿命进行分析,确定每个待检测器件的剩余寿命;备份切换控制模块,备份切换控制模块设置在主控芯片的内部,备份切换控制模块基于剩余寿命确定待检测器件的备份器件的启闭;可以提供与实际相符的剩余寿命和无故障工作时间数据,并预警可能出现的故障情况;同时,可通过大数据收集对某些用户区域,使用习惯等方面进行汇总分析,在结构上进行针对性处理,降低成本,提高用户满意度。

基本信息
专利标题 :
器件寿命检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487653A
申请号 :
CN202111661318.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杜晓光
申请人 :
深圳市联洲国际技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新技术园区科发路1号富利臻大厦5楼
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄德海
优先权 :
CN202111661318.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211231
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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